National Technical University of Athensの研究グループが、レーザ誘起前方転写法におけるマイグレーションの影響を調査しました。
この研究成果は、Applied Surface Scienceに掲載されています。
この記事は下記論文の紹介記事です。
論文：
Andritsos, K., et al. "The effect of electromigration on the lifetime and performance of flexible interconnections fabricated by Laser printing and sintering." Applied Surface Science (2019): 144968.
ナノインクのレーザー焼結と組み合わせたレーザ誘起前方転写法（LIFT）は、柔軟な電子機器を実現する重要な技術です。
同研究グループは、高解像度の柔軟な相互接続を実現するためレーザ誘起前方転写法（LIFT）を用いたパターンを様々なフレキシブル基板上に作製し、ストレステストを実施することでエレクトロマイグレーション挙動と寿命に関する調査を行いました。
本研究では、これらの相互接続の性能を検証するために、ポリエチレンナフタレート（PEN）やSU-8などのさまざまなフレキシブル基板を用いています。
Agナノ粒子微小電極を含むオールレーザー製の柔軟なプラットフォームは、Agのエレクトロマイグレーション（EM）の調査のためのストレステストを実行するために開発されました。
特に、EMによる破損に対する粒径と基材（ジュール加熱）の影響を調査しました。
これらのテストから抽出されたデータは、パーコレーション理論モデルと著者によって提案されたカスタムモデルに適合しました。
これにより、最適なフィッティング結果が得られ、印刷パターンの空隙率が提供されました。
多孔性因子の抽出に加えて、走査型電子顕微鏡（SEM）顕微鏡写真により、多孔質形態、ボイドの存在、亀裂への進化が破損メカニズムの速度と強度に影響することが確認されています。
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